あきらめていた欠陥検査が 誰でも簡単に
新AI機能搭載

NEW ITEM / SEMINAR
OMRON
新AI機能搭載
●過検出の3大要因を解消「新AI欠陥検出アルゴリズム」
●ワンクリックで最適なAIモデルを構築「新自動学習AI」
AIの検出性能を引き出すための学習と結果確認の繰り返し。多くの時間が要するこの繰り返し作業を自動化しました。
●オールインワンだから省メンテナンス「実績豊富なFHシリーズでAI導入」
FHシリーズのコントローラにAI欠陥学習検査用ライセンスを追加するだけで、ご利用いただけます。
一般的なAIツールで起こりがちな「AIを導入したのに、画像検査装置のメンテナンスコストは増加してしまった」という課題を解消できます。